Aplik actualmente invierte parte importante de sus ingresos en patentar las  tecnologías que desarrolla.

Para la empresa, las patentes se consideran uno de los bienes de mayor importancia, lo que se refleja para sus clientes, ya que constituyen, junto con las marcas, activos empresariales valiosos que garantizan la propiedad y el conocimiento pleno de una nueva tecnología, lo que nos permite ofrecer productos de excelente. Las patentes las consideramos instrumentos claves que reflejan el esfuerzo y la seriedad con que trabaja la empresa para sus clientes.

La protección a las invenciones, es parte de nuestro plan estratégico. Queremos empaquetar y exportar nuestras tecnologías. Las patentes, están dirigidas a respaldar el trabajo que realizamos en nuestros talleres y laboratorios, además nos protegen de posibles copias asegurándole a nuestros clientes que los productos y servicios ofrecidos son originales, especialmente cuando se requiere efectuar transacciones comerciales con cualquier país del mundo.

Algunos de los desarrollos realizados por Aplik han terminado en solicitudes de patente, ya que su resultado ha sido una novedad para la industria. En la actualidad Aplik tiene las siguientes solicitudes de patente:

• Método para evaluar cuantitativamente el nivel de desgaste de una correa transportadora y detectar perforaciones y rajaduras en su superficie. Solicitud Número: CL 1254-2009 ®, INAPI, Chile.
• Proceso Automatizado de Inspección Visual, Clasificación y Gestión de Calidad de Cátodos. Solicitud Número: CL 0166-2003 ®, INAPI, Chile.
• Método de marcado de cátodos para registrar sobre la superficie del cátodo información relevante respecto del mismo, de preferencia un código que lo identifique. Solicitud Número: CL 0144-2008 ®, INAPI, Chile.
• Método de evaluación y control de los parámetros de operación de celdas electrolíticas y cátodos permanentes de un proceso de electroobtención. Solicitud Número: CL 0145-2008 ®, INAPI, Chile.
• Método para detectar y prevenir la formación de uniones de cobre entre las placas depositadas sobre las caras de un cátodo permanente en un proceso de electroobtención. Solicitud Número: CL 0844-2008 ®, INAPI, Chile.
• Método y dispositivo para determinar cuantitativamente las características ópticas superficiales de un objeto de referencia compuesto por una pluralidad de capas ópticamente diferenciables. Solicitud Número: CL 3661-2008 ®, INAPI, Chile; US20100141931 ®, USA.